X射线荧光背景散射内标法用于铁粉元素测量

摘要:

铁粉中同时含有铁和硅元素，这给X射线荧光分析快速测量造成问题。针对这一问题，本文开发X射线荧光背景散射内标法用于铁粉元素测量的方案。通过低电压高电流、高电压低电流、不同采集板的增益，选择合适的设备参数获取较优的特征X射线信号。采用SiPIN探测器的建模，Si-Kα峰加背景散射线内标的Si含量建模结果，R2为0.9070， RMSE为0.0007； Fe-Kβ峰加背景散射线内标法的Fe含量建模结果，R2为0.88，RMSE为0.0037。采用SDD探测器的建模，Si-Kα峰加背景散射线内标的Si含量建模结果，R2为0.9869，RMSE为0.0002； Fe-Kβ峰加背景散射线内标的Fe含量建模结果， R2为0.9099，RMSE为0.0033。研究可为冶金行业铁粉的测量奠定良好基础。

关键词:背景散射内标法;X射线荧光;铁粉;元素含量

Abstract:

Key words:背景散射内标法;X射线荧光;铁粉;元素含量