本作品以解决工业样本的微纳尺度快速测量为目的。在共聚焦成像原理基础上,采用结构光调制实现了横向超分辨,比同条件明场照明下的横向分辨率提高了58%;将物方差动与并行共聚焦显微技术相结合,实现了被测表面的轴向精度的三维形貌还原。本作品是一套具有快速高效、高精度及易操作的微观形貌检测仪。
吴栋梁,袁涛,叶一青,林泽金,刘奕乐,谢佳豪,陈锶铃,梁珈,易定容.基于并行差动共聚焦的微观形貌检测仪[J].科研仪器案例成果数据库,2022,(0).