通过研究确定石墨烯材料中C-sp3、C-sp2、C-O、C=O、COOH、π-π*及修正峰P峰等碳的不同化学状态在XPS C 1s谱图中不同线型、不对称性、半高宽和峰位移，建立一套统一标准的石墨烯材料的谱图解析方法。本项目采用新的还原程度= Concentr. (Csp2+Cπ-π*) / Concentr. (Csp3+C-O+C=O+COOH-P）的分析手段，建立一套利用X射线光电子能谱快速量化石墨烯还原程度的实验方法，这种方法可以避免氧、碳等对还原程度量化分析的影响，为石墨烯材料的研究提供技术支撑。
苗利静,江柯敏,朱丽辉. X射线光电子能谱对石墨烯材料测试分析的研究[J].科研仪器案例成果数据库,2023,(0).
