环境湿度作为一个重要的环境参数，会影响材料的性能、生物的生长和电子器件的寿命等。在材料科学领域，对环境条件(如湿度和温度)的控制对于优化测量质量以及考察材料的稳定性至关重要。原子力显微镜(AFM)是测量材料纳米级性质及其与表面吸附相互作用的首选技术。利用商业Asylum Research Cypher VRS系统演示了环境湿度控制的方法和应用，该系统可以在低湿度环境下稳定地进行空气敏感样品的原子力显微镜表征;也可以稳定在90%的高湿环境，并且通过混合气路可对样品室的湿度进行调节，满足在中等湿度的稳定环境进行原子力显微镜表征。
