透射电镜衍射衬度对晶体结构及其取向很敏感，位错的观察随着电子束入射角度不同，将会呈现不同的特点。透射电镜的双束成像技术有助于获得对位错正确认识。案例以高熵合金为材料，详细的对透射电镜双束成像技术及弱束成像原理步骤及分析进行详细的说明，为高校测试室能够充分利用TEM对金属材料内部缺陷进行观察和分析提供了具体的实验指导。
毛晶,张金凤,张磊.透射电子显微镜双束成像技术在高熵合金位错上的表征[J].科研仪器案例成果数据库,2023,(0).
