基于全谱精修用途的X射线衍射数据校准方法
作者:
  • 摘要
  • | |
  • 访问统计
  • | |
  • 相似文献 [20]
  • |
  • 引证文献
  • | |
  • 文章评论
    摘要:

    X射线衍射仪(XRD)是材料表征的重要手段,不同品牌型号的衍射仪在不同测试条件下的测量数据存在精确度和准确度的差异。如何评判这种仪器之间的差异对测量数据造成的影响,目前没有一套简便易行的可操作的方法。为此,本案例开发的一种XRD数据校准方法,用Pearson VII峰形函数模型拟合全谱衍射峰获得校准曲线,用以修正XRD测角误差等,进一步提高全谱精修质量水平。案例以台式和立式两种XRD为例,对它们采集LaB6(NIST660b)的数据进行了比较分析。

    参考文献
    引证文献
引用本文

饶群力.基于全谱精修用途的X射线衍射数据校准方法[J].科研仪器案例成果数据库,2023,(0).

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:0
  • 下载次数: 34
  • HTML阅读次数: 0
  • 引用次数: 0
历史
  • 在线发布日期: 2024-09-24
文章二维码