薄膜材料作为一种新型功能材料正在被广泛应用于各个重要领域。薄膜一些独特的性能，例如稳定性和功能性等，与薄膜的择优取向密切相关。以单晶MgO衬底上生长的铋系超导薄膜材料为例，结合所研究材料的晶体结构特征，巧妙应用X射线Φ扫描方法对Bi2201薄膜的空间取向特别是面内取向进行了表征。研究发现单晶薄膜Bi2201在单晶MgO衬底上并不是简单的“Cube on Cube”外延生长，Bi2201薄膜在c轴外延生长的基础上，在ab面内绕MgO（001）晶向旋转45°的关系外延生长，即薄膜选择(001)[110] Bi2201//(001)[100]MgO面内取向外延生长。详细说明了测量方法的原理及具体实验操作步骤。这一方法为单晶或是强取向薄膜材料面内择优取向的测量和分析单晶或强取向薄膜材料与单晶衬底之间的错配关系提供了新途径。
