原子力显微镜参数调节

摘要:

参数调节是获得真实和高质量原子力显微镜（AFM）图像的关键环节。本文探究了AFM和其他几种扫描探针显微镜的关键参数对成像质量和表面分析的影响，包括扫描速度、探针选择、反馈控制参数以及探测模式（接触模式与轻敲模式）。随后总结了日常测试中几种常用测试模式下特殊样品的测试技巧，能更高效准确的得到测试结果，供大家参考。

关键词:原子力显微镜;粗糙样品;假象;表面电势;力曲线;静电

Abstract:

Key words:原子力显微镜;粗糙样品;假象;表面电势;力曲线;静电