基于NV色心的芯片表面微波场表征技术
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    金刚石氮空位 (NV) 色心是一种独特的发光点缺陷,具备在室温下光学易读取、微波可操控自旋态、高分辨率的特点,同时具有对样品进行实时无损检测的能力,使得它成为了集成电路系统中芯片表面微波信号表征的理想选择。本文主要研究基于金刚石 NV 色心的片上微波场表征方法,设计和搭建基于金刚石 NV 色心的表征系统,利用 NV 色心高度灵敏的微波可操控性,实现天线表面辐射的微波频率及功率表征。通过对上述微波信号表征技术的研究,大大提高了量子工程技术在芯片表面检测微波场参数的实用性,并为基于量子探测技术的射频器件表面微波场表征提供了参考。

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张真榕 ,温焕飞,王 丁,唐军,刘俊.基于NV色心的芯片表面微波场表征技术[J].科研仪器案例成果数据库,2024,(0).

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  • 在线发布日期: 2024-12-20
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